北京恒奧德儀器儀表有限公司
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H15324渦流測厚儀的詳細資料:
渦流測厚儀 型號:H15324
H15324 型渦流測厚儀 是DP-ED300型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
H15324 型與型相比,具有如下特點:
*量程寬 H15324 型的量程達到0~500μm。
*精度高 H15324 型的測量精度達到2%。
*分辨率高 H15324 型的分辨率達到0.1μm。
*校正簡便 只校正“0"和“50μm"兩點,即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
*基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量
誤差不大于1~2μm。
*可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性
提高。
*穩(wěn)定性提高 采用先進的溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
*探頭線壽命長 采用德國進口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
可大大延長。
*探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計,探頭芯壽命可大大延
長。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測量范圍: 0~500μm
測量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
2.引力常量實驗儀 常量實驗儀 型號:H15322
根據(jù)卡文迪許的扭稱實驗結(jié)構(gòu)進行改進、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現(xiàn)象,測量萬有引力恒量G。
儀器參數(shù):
可定性演示驗證萬有引力的存在,可定量測量引力常量G值,實驗相對誤差﹤5%。
3.可調(diào)電熱板 型號:H15320
產(chǎn)品介紹:
用途概述:
適用于實驗室、工礦企業(yè)、科研單位加熱之用。
產(chǎn)品特點:
1、均采用封閉式加熱,加熱無明火。
2、采用可控硅無級調(diào)功,適用于不同加熱溫度。
3、外殼采用靜電噴涂工藝,涂層牢固、美觀。
4.光纖光柵傳感實驗儀 傳感實驗儀 實驗儀 型號:H15313
光纖光柵傳感實驗儀包括光纖光柵測試單元和光纖光柵傳感單元,并配有專用測試軟件,計算機RS232接口。手動波長掃描,手工或計算機繪制光纖傳感波形、波長峰值移動
量測量,進而測量出光纖光柵兩大基本傳感參量-溫度及應(yīng)變。本實驗儀中,摻Er光纖ASE寬待光源和放大器可以獨立使用。
主要特點:
美國進口摻Er光纖ASE寬帶光源
波長范圍:1525-1565nm(C波段)寬帶光源和放大器可獨立使用。
性能指標(biāo):
波長掃描方式:手動 記錄方式:手動、自動 應(yīng)變傳感分辨率:<10με,范圍:0~5000με
溫度傳感分辨率:<1℃,范圍:室溫~70℃
成套性:光纖光柵測試單元、光纖光柵傳感單元
5.棉花水分儀 型號:H15312
測定原理:引進日本先進技術(shù),采用高周波原理制成。根據(jù)被測物不同,設(shè)有多種測量轉(zhuǎn)換開關(guān)。具有測量水分范圍寬、精度高、體積小、重量輕、操作簡便等特點,可在現(xiàn)場快速測定被測物水分。該儀器適用于測量棉花等水分。
★技術(shù)性能:
u測量水分范圍:0~80%
u精 度:0%~10% 精度:±0.2%
10%~40% 精度:±0.5%
40%~80% 精度:±1%
u顯示時間:1秒
u顯 示:3?位LCD液晶數(shù)字顯示
u探針長度:200mm
u溫度補償:-10℃~+100℃
u電 源:9V(6F22型)積層電池
FD-D型 |
u體 積:160mm×60mm×27mm
u重 量:200克
以上參數(shù)資料與圖片相對應(yīng)
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