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HAD-C910 測厚儀使用注意事項

主要類型

　　用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)量和生產(chǎn)安。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。

　　聲波測厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時會被反射，測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，大測定厚度達2000 mm左右，度在±0.01~±0.1 mm之間。

　　磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

　　渦流測厚儀當載有頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

　　同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

　　 使用注意事項

　　測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，聲波測厚法。

　　測量注意事項:

　　⒈在行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。

　　⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

　　⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

　　⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

　　⒏在行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此聲波測厚儀在行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。